ปิด
ภาพ
ภาพ
Semiconductor wafer under microscope light with test probes contacting the surface. ** Note: Shallow depth of field
| Stock Photo ID: 32040665 |
| ลิขสิทธิ์: TriExposure Photography |
ดาวน์โหลดทุกขนาดในราคาเดียว
| 5 ภาพ ต่อวัน | $0.53 / ภาพ | $79 |
| 10 ภาพ ต่อวัน | $0.33 / ภาพ | $99 |
| 50 images per month | $1.58 / ภาพ | $79 |
เครดิตจะใช้ได้นานถึงหนึ่งปี
| 10 เครดิต | $35 | |
| 25 เครดิต | ประหยัด 44% | $49 |
| 100 เครดิต | ประหยัด 52% | $169 |
| 500 เครดิต | ประหยัด 72% | $495 |
บันทึกภาพตัวอย่างของภาพนี้ไปยังไดรฟ์ Google